Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • In English
Trepo
  • Suomeksi
  • In English
  • Kirjaudu
Näytä viite 
  •   Etusivu
  • Trepo
  • Kandidaatintutkielmat
  • Näytä viite
  •   Etusivu
  • Trepo
  • Kandidaatintutkielmat
  • Näytä viite
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

EUV-litografia tulevaisuuden tekniikkana

Urpo, Eetu (2025)

 
Avaa tiedosto
UrpoEetu.pdf (890.7Kt)
Lataukset: 



Urpo, Eetu
2025

Tieto- ja sähkötekniikan kandidaattiohjelma - Bachelor's Programme in Computing and Electrical Engineering
Informaatioteknologian ja viestinnän tiedekunta - Faculty of Information Technology and Communication Sciences
This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Hyväksymispäivämäärä
2025-12-19
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:tuni-2025121811948
Tiivistelmä
Nykyään tietokoneiden ja muiden älylaitteiden yleistyessä niiden valmistustekniikat ovat tärkeässä roolissa. Tässä työssä tarkastellaan merkittävimpiä piirien valmistustekniikoita, eli EUV-litografiaa ja DUV-litografiaa. EUV-litografia tarkoittaa extreme ultraviolet –litografiaa ja DUV-litografia tarkoittaa deep ultraviolet –litografiaa. Työn tavoitteena on käydä läpi näiden perusteita sekä verrata niitä keskenään. Tärkeänä osa-alueena on myös EUV-litografian kehitys ja sen tulevaisuuden asemat.
Työ on toteutettu kirjallisuuskatsauksena ja se jakautuu neljään osaan: optisen litografian perusteiden läpikäymiseen, EUV-litografian perusteiden selittämiseen, EUV:n ja DUV:n vertailuun ja EUV:n tulevaisuuden näkymien pohtimiseen. Vertailussa käydään läpi litografiajärjestelmien laitteistoa sekä valmistajien taloudellisia puolia. Tulevaisuuden näkymissä pohditaan EUV:n valmistajia sekä järjestelmän muutoksia.
Tutkielman vertailujen perusteella EUV-litografia on huomattavasti kalliimpi vaihtoehto, mutta se toisaalta mahdollistaa erittäin pienen resoluution piirien valmistuksessa. Eroavaisuuksia EUV:n ja DUV:n välillä on laitteiston monimutkaisuudessa sekä kustannuksien määrässä. Tärkeimpänä havaintona on se, että EUV-litografiaa käytetään vain piirin äärimmäistä tarkkuutta vaativiin osiin ja DUV-litografiaa voidaan käyttää piirin muihin osiin.
Kokoelmat
  • Kandidaatintutkielmat [10829]
Kalevantie 5
PL 617
33014 Tampereen yliopisto
oa[@]tuni.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste
 

 

Selaa kokoelmaa

TekijätNimekkeetTiedekunta (2019 -)Tiedekunta (- 2018)Tutkinto-ohjelmat ja opintosuunnatAvainsanatJulkaisuajatKokoelmat

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy
Kalevantie 5
PL 617
33014 Tampereen yliopisto
oa[@]tuni.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste