Mittausjärjestelmän suunnittelu transistoriryhmälle

Rannikko, Teemu (2025)
 
Avaa tiedosto
Lataukset: 



Rannikko, Teemu
2025

Tieto- ja sähkötekniikan kandidaattiohjelma - Bachelor's Programme in Computing and Electrical Engineering
Informaatioteknologian ja viestinnän tiedekunta - Faculty of Information Technology and Communication Sciences
This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Hyväksymispäivämäärä
2025-05-26
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:tuni-202505236074
Tiivistelmä
Tässä kandidaatintyössä toteutettiin mittausjärjestelmä ohutkalvotransistoreille. Järjestelmän tavoitteena on kyetä luomaan luotettava sähköinen liitos näytteen transistorien elektrodeihin. Järjestelmän on myös kyettävä kytkemään mittaliittimet halutun transistorin elektrodiparille. Työn tarkoituksena on nopeuttaa näytteiden mittausta korvaamalla mittapäiden kohdistus jokaiselle näytteen transistorille sähköisellä kytkennällä.

Työssä toteutettiin kytkentäkaavio ja sitä vastaava piirilevy KiCAD-ohjelmalla. Järjestelmälle suunniteltiin 3D-tulostettu kotelointi Siemens NX -ohjelmalla. Piirilevy tilatiin JLCPCB:ltä, ja kokoonpano toteutettiin Tampereen Yliopiston opiskelijalaboratorioissa. Kotelointi ja muut 3D-tulostetut osat valmistettiin Tampereen FabLabissa.

Järjestelmän toimivuus testattiin sähköisesti sekä todellisuuden näytteiden avulla. Järjestelmä toimii sähköisesti odotetulla tavalla ja sillä kyetään mittaamaan haluttuja ohutkalvotransistorinäytteitä. Parannuskohteiksi jäivät järjestelmän käytettävyys, mittaustarkkuus ja kokoonpanon sujuvuus. Mittausten automaatio rajattiin työn ulkopuolelle.
Kokoelmat