Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • In English
Trepo
  • Suomeksi
  • In English
  • Kirjaudu
Näytä viite 
  •   Etusivu
  • Trepo
  • TUNICRIS-julkaisut
  • Näytä viite
  •   Etusivu
  • Trepo
  • TUNICRIS-julkaisut
  • Näytä viite
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Statistical analysis of E-jet print parameter effects on Ag-nanoparticle ink droplet size

Laurila, M. M.; Khorramdel, B.; Dastpak, A.; Mäntysalo, M. (2017-08-02)

 
Avaa tiedosto
Statistical_analysis_of_E_jet_print_parameter_effects_on_Ag_nanoparticle.._.pdf (556.3Kt)
Lataukset: 



Laurila, M. M.
Khorramdel, B.
Dastpak, A.
Mäntysalo, M.
02.08.2017

Journal of Micromechanics and Microengineering
095005
This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
doi:10.1088/1361-6439/aa7a71
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:tty-201712202436

Kuvaus

Peer reviewed
Tiivistelmä
<p>In this paper, we have studied the print parameter effects on electrohydrodynamic inkjet (E-jet) resolution using statistical analysis. In order to make the E-jet manufacturing process feasible, the effect of printing parameters on the ejected droplet size must be modelled and optimized. To this end, there exist two approaches: parameter effects can be modelled using theoretical calculations or they can be generated directly from empirical data using statistical analysis. The first option has been explored by multiple research groups, whereas the latter has received less interest. In this article, the effect of printing parameters on the width of AC-pulsed E-jet deposited Ag-nanoparticle ink droplets are investigated using design of experiments (DoE) approach and statistical analysis. As a result, a statistical model for deposited droplet width is generated using four print parameters (print height, bias voltage, peak voltage and frequency) as predictors. The model can predict 94.24% of the measured width variation with a standard deviation of 1.05 μm.</p>
Kokoelmat
  • TUNICRIS-julkaisut [24323]
Kalevantie 5
PL 617
33014 Tampereen yliopisto
oa[@]tuni.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste
 

 

Selaa kokoelmaa

TekijätNimekkeetTiedekunta (2019 -)Tiedekunta (- 2018)Tutkinto-ohjelmat ja opintosuunnatAvainsanatJulkaisuajatKokoelmat

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy
Kalevantie 5
PL 617
33014 Tampereen yliopisto
oa[@]tuni.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste