Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • In English
Trepo
  • Suomeksi
  • In English
  • Kirjaudu
Näytä viite 
  •   Etusivu
  • Trepo
  • Opinnäytteet - ylempi korkeakoulututkinto
  • Näytä viite
  •   Etusivu
  • Trepo
  • Opinnäytteet - ylempi korkeakoulututkinto
  • Näytä viite
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Suprajohteen jännite-virtamittauksen analysointi

Monni, Jussi Taneli (2019)

 
Avaa tiedosto
Monni.pdf (3.699Mt)
Lataukset: 



Monni, Jussi Taneli
2019

Sähkötekniikka
Informaatioteknologian ja viestinnän tiedekunta - Faculty of Information Technology and Communication Sciences
This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Hyväksymispäivämäärä
2019-03-06
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:tty-201903081297
Tiivistelmä
Suprajohtavuus mahdollistaa uusia tieteellisiä läpimurtoja, kuten ITER:in ja Cernin LHC:n. Sen avulla korvataan konventionaalisia sähköteknisiä järjestelmiä, kuten magneettikuvauslaitteita. Nämä teknologiat vaativat paljon suprajohtavaa johdinta, jonka jännite-virta-ominaiskäyrä täytyy selvittää. Kriittisen virran mittaus on tähän tarkoitukseen vakiintunut toimenpide, joka suoritetaan näyteosuudelle jokaisesta tuotetusta johdinyksiköstä. Tämän diplomityön tarkoitus on tarkastella kriittisen virran mittausta, johon viitataan myös termillä V (I)-mittaus. Todellisten johtimien kriittisen virran mittausdataa analysoidaan ja sitä verrataan työn osana tuotettuun simulaatiodataan. Tämä diplomityö koostuu kahdesta osasta: teoriasta ja koeosiosta. Teoriaosuus esittelee suprajohteen toiminnan ja monimutkaisen johdinrakenteen ymmärtämiselle välttämättömättömän taustatiedon. Se käy läpi tämänhetkiset kaupalliset suprajohdemateriaalit ja selittää ainutlaatuisten NbTi-pohjaisten johdinten menestyksen nykyaikaisissa magneettikuvauslaiteissa. Diplomityö luo lisäksi katsauksen suprajohteiden kriittisen virran mittauksen historiaan ja tekijöihin, jotka johtivat alan standardien kehittämiseen. Kriittisen virran mittauksen standardi NbTi-johtimille liittyy keskeisesti tähän diplomityöhön, joten sitä referoidaan työlle oleellisilta osin. Kokeellinen osio tutkii virran ja jännitteen varianssien vaikutusta V-I-analysointityökalu-tietokoneohjelman määrittämiin kriittisen virran ja n-arvon luottamusväleihin. n-arvon vaikutusta arvioidaan sekä kirjallisuuskatsauksessa että magneettisen vaimenemisen esimerkin kautta. Lisäksi mittausdatan painottamista kriittisen virran mittauksessa tarkastellaan. V-I-työkalun käyttämiseen suositellut asetukset esitellään ja kattava mittausmanuaali kirjoitetaan tukemaan työkalun tehokasta hyödyntämistä.
Kokoelmat
  • Opinnäytteet - ylempi korkeakoulututkinto [36589]
Kalevantie 5
PL 617
33014 Tampereen yliopisto
oa[@]tuni.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste
 

 

Selaa kokoelmaa

TekijätNimekkeetTiedekunta (2019 -)Tiedekunta (- 2018)Tutkinto-ohjelmat ja opintosuunnatAvainsanatJulkaisuajatKokoelmat

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy
Kalevantie 5
PL 617
33014 Tampereen yliopisto
oa[@]tuni.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste