"puolijohdenäytteiden karakterisointi" - Selaus asiasanan mukaan Kandidaatintutkielmat

    • Mittausjärjestelmän suunnittelu transistoriryhmälle 

      Rannikko, Teemu (2025)
      Kandidaatintyö
      Tässä kandidaatintyössä toteutettiin mittausjärjestelmä ohutkalvotransistoreille. Järjestelmän tavoitteena on kyetä luomaan luotettava sähköinen liitos näytteen transistorien elektrodeihin. Järjestelmän on myös kyettävä ...