"puolijohdenäytteiden karakterisointi" - Selaus asiasanan mukaan Kandidaatintutkielmat
Viitteet 1-1 / 1
-
Mittausjärjestelmän suunnittelu transistoriryhmälle
(2025)
KandidaatintyöTässä kandidaatintyössä toteutettiin mittausjärjestelmä ohutkalvotransistoreille. Järjestelmän tavoitteena on kyetä luomaan luotettava sähköinen liitos näytteen transistorien elektrodeihin. Järjestelmän on myös kyettävä ...
